www.spargalkes.lt

Kompiuterių struktūros egzamino špera

DIAGNOSTINIAI EKSPERIMENTAI DVIEM BŪSENOMS

Tegu automatas M turi n būsenų. Galimų pradinių būsenų aibė A(M) turi dvi būsenas Si0 ir Sj0, t.y. A(M)={Si0,Sj0}. Kadangi automatas minimalus, tai būsenos Si0 ir Sj0 yra atskiriamos. Šios būsenos yra (n-1) atskiriamos. Todėl egzistuoja (n-1) ilgio arba trumpesnė įėjimo seka, kurią padavus į automatą M/Si0 ir M/Sj0 gausime skirtingas išėjimo sekas. Tokia seka vadinama diagnostine seka būsenoms Si0 ir Sj0.

Pirmas diagnostinis sekos simbolis bus įėjimo simbolis Pl-1 lentelėje, kurioje eilutės Si0 ir Sj0 turi skirtingus indeksus. Antras diagnostinės sekos simbolis bus tas įėjimo simbolis Pl-2 lentelėje, kurioje būsenos S’i0 ir S’j0 turi skirtingus indeksus. Būsenos S’i0 ir S’j0 yra būsenos, į kurias Pl-1 lentelėje pereina Si0 ir Sj0, veikiant šias būsenas atskiriamuoju įėjimo simboliu.

Failai:
FailasFailo dydisParsisiųsta
Parsisiųsti šį failą (111a145758a25add07215a394971321f.zip)Kompiuterių struktūros egzamino špera23 Kb0
Neteisinga

 
Informatika Kompiuterių struktūros egzamino špera
www.kvepalai.ltkvepalai.ltwww.spargalkes.ltspargalkes.ltwww.tytuvenai.lttytuvenai.lt